Ellipsometric thickness and coverage of physisorbed layers of Xe, Kr, Ar and N2 on graphite

Faul, J; Volkmann, Ulrich; Knor, K

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Título de la Revista: SURFACE SCIENCE
Volumen: 227
Editorial: ELSEVIER SCIENCE BV
Fecha de publicación: 1990
Página de inicio: 390
Página final: 394