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IEEE JOURNAL OF PHOTOVOLTAICS  (2013)

Local doping profiles for height-selective emitters determined by scanning spreading resistance microscopy (SSRM)

Ferrada, Pablo; Harney, Rudolf; Wefringhaus, Eckard; Doering, Stefan; Jakschick, Stefan; Mikolajick, Thomas; Eyben, Pierre; Hantschel, Thomas; Vandervorst, Wilfred; Weiss, Mathias; Lossen, Jan

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Título de la Revista: IEEE JOURNAL OF PHOTOVOLTAICS
Volumen: 3
Número: 1
Editorial: IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
Fecha de publicación: 2013
Página de inicio: 168
Página final: 174
Idioma: English
DOI:

10.1109/JPHOTOV.2012.2213580
Notas: ISI