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PHYSICAL REVIEW B  (2017)

Three-dimensional characterization of Co/Pd multilayer thin films using resonant soft x-ray scattering

Flewett, Samuel; Mishra, Durgamadhab; Mori, Thiago J. A.; Günther, Christian M.; Denardin, Juliano C.; Oyarzún, Simón; Michea, Sebastián; Engel, Dieter; Fohler, Manuel; Rocha, Tulio C. R.; Ovalle F., Alexandra; Núñez A., Leandro T.; Pfau, Bastian; Escrig, Juan; Eisebitt, Stefan

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Título según WOS: Three-dimensional characterization of Co/Pd multilayer thin films using resonant soft x-ray scattering
Título según SCOPUS: Three-dimensional characterization of Co/Pd multilayer thin films using resonant soft x-ray scattering
Título de la Revista: PHYSICAL REVIEW B
Volumen: 95
Número: 9
Editorial: AMER PHYSICAL SOC
Fecha de publicación: 2017
Idioma: English
DOI:

10.1103/PhysRevB.95.094430
Notas: ISI, SCOPUS - isi