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Micron  (2008)

Automated analysis of the architecture of receptors, imaged by atomic force microscopy

Ge, Haifang; Henderson, Robert M.; Fitzgerald, William J.; Edwardson, J. Michael

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Título de la Revista: Micron
Volumen: 39
Número: 2
Fecha de publicación: 2008
Página de inicio: 101
Página final: 110
DOI:

10.1016/j.micron.2006.12.006