A methodology based on the Birnbaum-Saunders distribution for reliability analysis applied to nano-materials

Leiva, Víctor; Ruggeri, Fabrizio; Saulo, Helton; Vivanco, Juan F.

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Título según WOS: A methodology based on the Birnbaum-Saunders distribution for reliability analysis applied to nano-materials
Título según SCOPUS: A methodology based on the Birnbaum–Saunders distribution for reliability analysis applied to nano-materials
Título de la Revista: RELIABILITY ENGINEERING & SYSTEM SAFETY
Volumen: 157
Editorial: ELSEVIER SCI LTD
Fecha de publicación: 2017
Página de inicio: 192
Página final: 201
Idioma: English
DOI:

10.1016/j.ress.2016.08.024

Notas: ISI, SCOPUS - ISI