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PHYSICAL REVIEW B  (1999)

c -axis penetration depth and interlayer conductivity in the thallium-based cuprate superconductors

Tsvetkov, A. A.; Hardy, W. N.; Ren, Z. F.; Wang, J. H.; Willemsen, B. A.

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Título de la Revista: PHYSICAL REVIEW B
Volumen: 60
Número: 22
Editorial: American Physical Society
Fecha de publicación: 1999
Página de inicio: R15051
Página final: R15054
DOI:

10.1103/PhysRevB.60.R15051