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 (2003)

Characterization of Electromigration‐induced Gold Nanogaps

van der Molen, S. J.; Trouwborst, M. L.; Dulic, D.; van Wees, B. J.

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Fecha de publicación: 2003
Página de inicio: 511
Página final: 518
Idioma: english
URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.1628083