Article ISI SCOPUS
THIN SOLID FILMS  (2017)

Dewetting of Ni thin films obtained by atomic layer deposition due to the thermal reduction process: Variation of the thicknesses

Alburquenque D.; Del Canto M.; Arenas C.; Tejo F.; Pereira A.; Escrig J.

Más información

Título según WOS: Dewetting of Ni thin films obtained by atomic layer deposition due to the thermal reduction process: Variation of the thicknesses
Título según SCOPUS: Dewetting of Ni thin films obtained by atomic layer deposition due to the thermal reduction process: Variation of the thicknesses
Título de la Revista: THIN SOLID FILMS
Volumen: 638
Editorial: ELSEVIER SCIENCE SA
Fecha de publicación: 2017
Página de inicio: 114
Página final: 118
Idioma: English
DOI:

10.1016/j.tsf.2017.07.041
Notas: ISI, SCOPUS