Article SCOPUS
Journal of alloys  (2010)

Far infrared near normal specular reflectivity of Nix(SiO2)1-x (x = 1.0, 0.84, 0.75, 0.61, 0.54, 0.28) granular films

Massa N.E.; Denardin, J.C.; Socolovsky L.M.; Knobel M.; de la Cruz F.P.; Zhang X.

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Título según SCOPUS: Far infrared near normal specular reflectivity of Nix(SiO2)1-x (x = 1.0, 0.84, 0.75, 0.61, 0.54, 0.28) granular films
Título de la Revista: Journal of alloys
Volumen: 495
Número: 2
Editorial: Elsevier
Fecha de publicación: 2010
Página de inicio: 638
Página final: 641
Idioma: English
DOI:

10.1016/j.jallcom.2009.10.228
Notas: SCOPUS