ConferencePaper ISI SCOPUS
SBMO/IEEE MTT-S International Microwave and Optoelectronics Conference Proceedings  (2013)

Spatial and frequency domain metrics for assessing fixed-pattern noise in infrared images

Perez F.; Nova M.; Pezoa J.E.; Figueroa, M; Torres S.N.

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Título según WOS: Spatial and Frequency Domain Metrics for Assessing Fixed-Pattern Noise in Infrared Images
Título según SCOPUS: Spatial and frequency domain metrics for assessing fixed-pattern noise in infrared images
Título de la Revista: SBMO/IEEE MTT-S International Microwave and Optoelectronics Conference Proceedings
Editorial: no publisher
Fecha de publicación: 2013
Idioma: English
DOI:

10.1109/IMOC.2013.6646461
Notas: ISI, SCOPUS