ConferencePaper ISI SCOPUS
Proceedings of IEEE International Conference on Solid Dielectrics, ICSD  (2013)

Serial block-face scanning electron microscopy for three-dimensional imaging of electrical trees

Schurch, R; Rowland, S. M.; Starborg T.

Más información

Título según WOS: ID WOS:000339117400061 Not found in local WOS DB
Título según SCOPUS: Serial block-face scanning electron microscopy for three-dimensional imaging of electrical trees
Título de la Revista: Proceedings of IEEE International Conference on Solid Dielectrics, ICSD
Editorial: no publisher
Fecha de publicación: 2013
Página de inicio: 271
Página final: 274
Idioma: English
DOI:

10.1109/ICSD.2013.6619714
Notas: ISI, SCOPUS