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IECON Proceedings (Industrial Electronics Conference)  (2013)

Comparative analysis of manifold learning algorithms for tomographic sensor processing

Lotero, F

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Título según WOS: Comparative analysis of manifold learning algorithms for tomographic sensor processing
Título según SCOPUS: Comparative analysis of manifold learning algorithms for tomographic sensor processing
Título de la Revista: IECON Proceedings (Industrial Electronics Conference)
Editorial: no publisher
Fecha de publicación: 2013
Página de inicio: 3898
Página final: 3903
Idioma: English
DOI:

10.1109/IECON.2013.6699758
Notas: ISI, SCOPUS