Article ISI SCOPUS
NANOTECHNOLOGY  (2018)

Intrinsic electron trapping in amorphous oxide

Strand, J; Kaviani, M; Afanasev, VV; Lisoni, JG; Shluger, AL

Keywords: dft calculations, charge trapping, amorphous HfO2, exhaustive photo-depopulation spectroscopy, intrinsic electron traps

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Título según WOS: Intrinsic electron trapping in amorphous oxide
Título según SCOPUS: Intrinsic electron trapping in amorphous oxide
Título de la Revista: NANOTECHNOLOGY
Volumen: 29
Número: 12
Editorial: IOP PUBLISHING LTD
Fecha de publicación: 2018
Idioma: English
DOI:

10.1088/1361-6528/aaa77a
Notas: ISI, SCOPUS