Article ISI SCOPUS
ACS Nano  (2018)

Reducing Coercive-Field Scaling in Ferroelectric Thin Films via Orientation Control

Xu, RJ; Gao R.; Saremi, S; Dong, YQ; Lu, HL; Chen, ZH; Lu, XY; Qi, YJ; Hsu, SL; Damodaran, AR; Zhou H.; Martin, LW

Keywords: x-ray diffraction, thin film, ferroelectric, size effects, coercive-field scaling

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Título según WOS: Reducing Coercive-Field Scaling in Ferroelectric Thin Films via Orientation Control
Título según SCOPUS: Reducing Coercive-Field Scaling in Ferroelectric Thin Films via Orientation Control
Título de la Revista: ACS Nano
Volumen: 12
Número: 5
Editorial: ACS
Fecha de publicación: 2018
Página de inicio: 4736
Página final: 4743
Idioma: English
DOI:

10.1021/acsnano.8b01399
Notas: ISI, SCOPUS