Article ISI SCOPUS
NANO LETTERS  (2018)

New Deformation-Induced Nanostructure in Silicon

Wang, B; Zhang, ZY; Chang, KK; Cui, JF; Rosenkranz, A; Yu, JH; Lin, CT; Chen, GX; Zang, KT; Luo, J; Jiang, N; Guo, DM

Keywords: stress, deformation, nanostructure, si, transmission electron microscopy

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Título según WOS: New Deformation-Induced Nanostructure in Silicon
Título según SCOPUS: New Deformation-Induced Nanostructure in Silicon
Título de la Revista: NANO LETTERS
Volumen: 18
Número: 7
Editorial: AMER CHEMICAL SOC
Fecha de publicación: 2018
Página de inicio: 4611
Página final: 4617
Idioma: English
DOI:

10.1021/acs.nanolett.8b01910
Notas: ISI, SCOPUS