Article ISI SCOPUS
JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY C  (2018)

( )Physical Origins of the Transient Absorption Spectra and Dynamics in Thin-Film Semiconductors: The Case of BiVO4

Cooper J.K.; Hess, LH; Jiang C.M.; Sharp I.D.

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Título según WOS: ( )Physical Origins of the Transient Absorption Spectra and Dynamics in Thin-Film Semiconductors: The Case of BiVO4
Título según SCOPUS: Physical Origins of the Transient Absorption Spectra and Dynamics in Thin-Film Semiconductors: The Case of BiVO4
Título de la Revista: JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY C
Volumen: 122
Número: 36
Editorial: AMER CHEMICAL SOC
Fecha de publicación: 2018
Página de inicio: 20642
Página final: 20652
Idioma: English
DOI:

10.1021/acs.jpcc.8b06645
Notas: ISI, SCOPUS