Random parameter structure and the testlet model: Extension of the Rasch testlet model

Paek, I., Yon, H., Wilson, M., & Kang, T.

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Título de la Revista: JOURNAL OF APPLIED MEASUREMENT
Volumen: 10
Número: 4
Editorial: JAM Press
Fecha de publicación: 2009
Página de inicio: 394
Página final: 407