A baseline restorer for charge-sensitive amplifiers in a 500-nm CMOS process

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Título según SCOPUS: A baseline restorer for charge-sensitive amplifiers in a 500-nm CMOS process
Título de la Revista: Proceedings of the 2018 IEEE Sciences and Humanities International Research Conference, SHIRCON 2018
Editorial: Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Fecha de publicación: 2018
Página de inicio: 1
Página final: 4
Idioma: English
DOI:

10.1109/LASCAS.2018.8399943

Notas: SCOPUS