Article ISI SCIELO SCOPUS
BOLETIN DE LA SOCIEDAD CHILENA DE QUIMICA  (2002)

ELECTRODEPOSITION AND CHARACTERIZATION OF ZnX (X=Se, Te) SEMICONDUCTOR THIN FILMS

Riveros, G; Gómez H.; Henríquez R.; Schrebler, R; CORDOVA, R; Marotti, RE; Dal Chiele, EA

Abstract

El presente trabajo describe la s

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Título según WOS: Electrodeposition and characterization of ZnX (X=Se, Te) semiconductor thin films
Título según SCOPUS: Electrodeposition and characterization of ZnX (X=Se, Te) semiconductor thin films
Título según SCIELO: ELECTRODEPOSITION AND CHARACTERIZATION OF ZnX (X=Se, Te) SEMICONDUCTOR THIN FILMS
Título de la Revista: BOLETIN DE LA SOCIEDAD CHILENA DE QUIMICA
Volumen: 47
Número: 4
Editorial: Sociedad Chilena de Química
Fecha de publicación: 2002
Página de inicio: 411
Página final: 429
Idioma: English
DOI:

10.4067/S0366-16442002000400013
Notas: ISI, SCIELO, SCOPUS