Study of impurities, complex defects, and grain boundaries in CdTe thin films using computer simulation at the atomic scale

Menendez Proupin, Eduardo Ariel; Orellana Muñoz, Walter Manuel; Amezaga Echevarria, Alexis

Más información

Fecha de publicación: 2013
Año de Inicio/Término: 2013-2017
Financiamiento/Sponsor: CONICYT-FONDECYT
DOI:

1130437