Article ISI
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE  (2003)

Measurement of the depth of interaction of an LSO scintillator using a planar process APD

Gramsch E.; Avila, RE; Bui P.

Más información

Título según WOS: Measurement of the depth of interaction of an LSO scintillator using a planar process APD
Título de la Revista: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
Volumen: 50
Número: 3
Editorial: IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
Fecha de publicación: 2003
Página de inicio: 307
Página final: 312
Idioma: English
URL: http://ieeexplore.ieee.org/lpdocs/epic03/wrapper.htm?arnumber=1208613
DOI:

10.1109/TNS.2003.812430
Notas: ISI