Patent
 (2013)

Método y dispositivo para determinar cuantitativamente las características ópticas superficiales de un objeto de referencia compuesto por una pluralidad de capas ópticamente diferenciables

Ramirez, Jaime A.

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Fecha de publicación: 2013
DOI:

INAPI Chile, Registro 49509
Notas: INAPI Chile, Registro 49509, Agosto 2013. También como: USPTO, N° US 8203713 B2; Instituto Mexicano de la Propiedad Industrial – IMPI, Register MX 317222 B; Instituto Nacional da Propriedade Industrial, INPI Brasil, PI 0906272-6 B1.