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PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE  (2004)

Structure and growth of dotriacontane films on SiO2 and Ag(111) surfaces: synchrotron X-ray scattering and molecular dynamics simulations

Mo, H; Trogisch, S; Taub H.; Ehrlich, SN; Volkmann, UG; Hansen, FY; Pino M.

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Título según WOS: Structure and growth of dotriacontane films on SiO2 and Ag(111) surfaces: synchrotron X-ray scattering and molecular dynamics simulations
Título de la Revista: PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE
Volumen: 201
Número: 10
Editorial: WILEY-V C H VERLAG GMBH
Fecha de publicación: 2004
Página de inicio: 2375
Página final: 2380
Idioma: English
DOI:

10.1002/pssa.200404894
Notas: ISI