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Acquisition of a Scanning Probe for Mechanical and Electrical Characterization at Nanoscale
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| Fecha de publicación: | 2019 |
| Instrumento: | FONDEQUIP |
| Año de Inicio/Término: | 2019-2021 |
| Financiamiento/Sponsor: | CONICYT |
| Rol del Usuario: | INVESTIGADOR(A) ASOCIADO(A) |