Inference of X-Ray Emission From a Plasma Focus Discharge: Comparison Between Characteristic Parameters and Neural Network Analyses

Orellana, Luis; Avaria, Gonzalo; Ardila-Rey, Jorge; Davis, Sergio; Schurch, Roger; Pavez, Cristian

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Título de la Revista: IEEE ACCESS
Volumen: 8
Editorial: IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
Fecha de publicación: 2020
Página de inicio: 79273 -
Página final: 79286
Notas: ISI, SCOPUS