Article ISI SCOPUS
APPLIED OPTICS  (2005)

Uncertainty analysis of displacements measured by in-plane electronic speckle-pattern interferometry with spherical wave fronts

Martínez A; Cordero, R.; Rayas, JA; Puga, HJ; Rodriguez-Vera, R

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Título según WOS: Uncertainty analysis of displacements measured by in-plane electronic speckle-pattern interferometry with spherical wave fronts
Título según SCOPUS: Uncertainty analysis of displacements measured by in-plane electronic speckle-pattern interferometry with spherical wave fronts
Título de la Revista: APPLIED OPTICS
Volumen: 44
Número: 7
Editorial: OPTICAL SOC AMER
Fecha de publicación: 2005
Página de inicio: 1141
Página final: 1149
Idioma: English
URL: http://www.opticsinfobase.org/abstract.cfm?URI=AO-44-7-1141
DOI:

10.1364/AO.44.001141
Notas: ISI, SCOPUS