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 (2020)

A Bayesian graphical and probabilistic proposal for bias analysis

Ovalle, C.; Alvares, D.; Wiberg, M.; Molenaar, D.; González, J.; Böckenholt, U.; Kim J.-S.

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Editorial: Springer Netherlands
Fecha de publicación: 2020
Página de inicio: 69
Página final: 78
Idioma: English
URL: https://doi.org/10.1007/978-3-030-43469-4_6