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 (2021)

Computer Vision for X-ray Testing

Mery, Domingo; Pieringer, Christian

Keywords: image processing, pattern recognition, computer vision, x-ray testing

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Editorial: Springer
Fecha de publicación: 2021
Página de inicio: 1
Página final: 456
Idioma: English
URL: https://www.springer.com/gp/book/9783030567682
DOI:

10.1007/978-3-030-56769-9