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IEEE ACCESS  (2020)

Slow Degradation Fault Detection in a Harsh Environment

Cho, Anthony D.; Carrasco, Rodrigo A.; Ruz, Gonzalo A.; Ortiz, José Luis

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Título de la Revista: IEEE ACCESS
Volumen: 8
Editorial: IEEE
Fecha de publicación: 2020
Página de inicio: 175904
Página final: 175920
Idioma: Inglés
URL: https://ieeexplore.ieee.org/document/9205191
DOI:

https://doi.org/10.1109/ACCESS.2020.3026348
Notas: WoS