Electrochemical Study of Metallic Foams Ti-Ta-Sn Through SEM

Mejia, Abraham; Bejar, Luis; Huape, Engelbert; Bejar-Vega, Luis; Aguilar, Claudio; Parra, Carolina; Alfonso, Ismeli

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Título de la Revista: Microscopy and Microanalysis
Volumen: 26
Número: S2
Fecha de publicación: 2020
Página de inicio: 2198
Página final: 2200
DOI:

10.1017/S1431927620020784