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2005 INTERNATIONAL CONFERENCE ON INTEGRATED CIRCUIT DESIGN AND TECHNOLOGY  (2005)

Integration challenges for multi-gate devices

Collaert, N; Brus, S; De Keersgieter, A; Dixit, A; Ferain, I; Goodwin, M.; Kottantharayil, A; Rooyackers, R; Verheyen, P; Yim, Y; Zimmerman, P; Beckx, S; Degroote, B; Demand, M; Kim, M; et. al.

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Título según WOS: ID WOS:000229963100046 Not found in local WOS DB
Título de la Revista: 2005 INTERNATIONAL CONFERENCE ON INTEGRATED CIRCUIT DESIGN AND TECHNOLOGY
Editorial: IEEE
Fecha de publicación: 2005
Página de inicio: 187
Página final: 194
DOI:

10.1109/ICICDT.2005.1502627
Notas: ISI