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Maximizing network reliability to 0-day exploits through a heterogeneous node migration strategy
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| Título de la Revista: | IEEE ACCESS |
| Volumen: | 9 |
| Editorial: | IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC |
| Fecha de publicación: | 2021 |
| Página de inicio: | 97747 |
| Página final: | 97759 |
| URL: | https://doi.org/10.1109/ACCESS.2021.3095149 |
| Notas: | WOS Core Collection ISI |