Data-Driven Representations for Testing Independence: Modeling, Analysis and Connection with Mutual Information Estimation
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Título de la Revista: | IEEE TRANSACTIONS ON SIGNAL PROCESSING |
Volumen: | 70 |
Editorial: | IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC |
Fecha de publicación: | 2021 |
Página de inicio: | 158 |
Página final: | 173 |
URL: | https://doi.org/10.1109/TSP.2021.3135689 |