Data-Driven Representations for Testing Independence: Modeling, Analysis and Connection with Mutual Information Estimation
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| Título de la Revista: | IEEE TRANSACTIONS ON SIGNAL PROCESSING |
| Volumen: | 70 |
| Editorial: | IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC |
| Fecha de publicación: | 2021 |
| Página de inicio: | 158 |
| Página final: | 173 |
| URL: | https://doi.org/10.1109/TSP.2021.3135689 |