Data-Driven Representations for Testing Independence: Modeling, Analysis and Connection with Mutual Information Estimation

Mauricio Gonzales, Jorge F. Silva?, Miguel Videla and Marcos Orchard

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Título de la Revista: IEEE TRANSACTIONS ON SIGNAL PROCESSING
Volumen: 70
Editorial: IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
Fecha de publicación: 2021
Página de inicio: 158
Página final: 173
URL: https://doi.org/10.1109/TSP.2021.3135689