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IEEE SIGNAL PROCESSING LETTERS  (2021)

Finite-Length Bounds on Hypothesis Testing Subject to Vanishing Type I Error Restrictions

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Título de la Revista: IEEE SIGNAL PROCESSING LETTERS
Volumen: 28
Editorial: IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
Fecha de publicación: 2021
Página de inicio: 229
Página final: 233
URL: https://doi.org/10.1109/LSP.2021.3050381