Comparison and discussion on shortcircuit protections for SiC MOSFET modules: desaturation vs. Rogowski switch-current sensor

S. Mocevic, J. Wang, R. Burgos, D. Boroyevich, M. Jaksic, C. Stancu, and B. Peaslee

Más información

Título de la Revista: IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRY APPLICATIONS
Volumen: 56
Editorial: IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
Fecha de publicación: 2020
Página de inicio: 2880
Página final: 2893