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 (2023)

Realistic Simulation of Event-Related Potentials and Their Usual Noise and Interferences for Pattern Recognition

Torres-Rodríguez, I.; Díaz-Amador, R; Peón-Pérez, B.; Hurtado Armas, A.; Taboada-Crispi, A.

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Editorial: Springer
Fecha de publicación: 2023
Página de inicio: 3
Página final: 19
DOI:

https://doi.org/10.1007/978-3-031-33783-3_19