Standardizing ROI placement significantly increases the within-and between-subject reliability of electric field models

Arias, Diego E.; Sege, Christopher T.; McTeague, Lisa M.; Heise, Kirstin-Friederike; Caulfield, Kevin A.

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Título según WOS: ID WOS:001505000900001 Not found in local WOS DB
Título de la Revista: BRAIN STIMULATION
Volumen: 18
Número: 4
Editorial: Elsevier Science Inc.
Fecha de publicación: 2025
Página de inicio: 1137
Página final: 1140
DOI:

10.1016/j.brs.2025.05.135

Notas: ISI