Article ISI SCIELO SCOPUS
Journal of the Chilean Chemical Society  (2010)

SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND ATOMIC FORCE MICROSCOPY OF CHITOSAN COMPOSITE FILMS

Cardenas, G; Anaya P.; Del Rio R.; Schrebler, R; Von Plessing, C; Schneider, M

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Título según WOS: SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND ATOMIC FORCE MICROSCOPY OF CHITOSAN COMPOSITE FILMS
Título según SCOPUS: Scanning electron microscopy and atomic force microscopy of chitosan composite films
Título según SCIELO: SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND ATOMIC FORCE MICROSCOPY OF CHITOSAN COMPOSITE FILMS
Título de la Revista: Journal of the Chilean Chemical Society
Volumen: 55
Número: 3
Editorial: Sociedad Chilena De Quimica
Fecha de publicación: 2010
Página de inicio: 352
Página final: 354
Idioma: English
Notas: ISI, SCIELO, SCOPUS