Comparative measurement of in plane strain by shearography and electronic speckle pattern interferometry

Martínez A; Rayas, JA; Cordero, R.; Labbe, F.

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Título según WOS: Comparative measurement of in plane strain by shearography and electronic speckle pattern interferometry
Título según SCOPUS: Comparative measurement of in plane strain by shearography and electronic speckle pattern interferometry
Título de la Revista: Revista Mexicana de Fisica
Volumen: 57
Número: 6
Editorial: SOCIEDAD MEXICANA DE FISICA
Fecha de publicación: 2011
Página de inicio: 518
Página final: 523
Idioma: English
Notas: ISI, SCOPUS