Critical thickness investigation of magnetic properties in exchange-coupled bilayers

Rodriguez-Suarez, RL; Vilela-Leao, LH; Bueno T.; Oliveira, AB; de Almeida, JRL; Landeros, P.; Rezende, SM; Azevedo, A.

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Título según WOS: Critical thickness investigation of magnetic properties in exchange-coupled bilayers
Título según SCOPUS: Critical thickness investigation of magnetic properties in exchange-coupled bilayers
Título de la Revista: Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics
Volumen: 83
Número: 22
Editorial: American Physical Society
Fecha de publicación: 2011
Idioma: English
URL: http://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevB.83.224418
DOI:

10.1103/PhysRevB.83.224418

Notas: ISI, SCOPUS