Two-wavelength electronic speckle pattern interferometry for simultaneous measurement of two in-plane displacement fields
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Título según SCOPUS: | Two-wavelength electronic speckle pattern interferometry for simultaneous measurement of two in-plane displacement fields |
Título de la Revista: | Optics InfoBase Conference Papers |
Editorial: | OSA - The Optical Society |
Fecha de publicación: | 2014 |
Idioma: | English |
Notas: | SCOPUS |