Review ISI SCOPUS
 (2018)

X-ray backlighter requirements for refraction-based electron density diagnostics through Talbot-Lau deflectometry

Valdivia, M. P.; Albertazzi B.; Rigon G.; Mabey P.; Michel T.; Pikuz S.A.; Koenig, M; Casner A.

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Título según WOS: X-ray backlighter requirements for refraction-based electron density diagnostics through Talbot-Lau deflectometry
Título según SCOPUS: X-ray backlighter requirements for refraction-based electron density diagnostics through Talbot-Lau deflectometry
Volumen: 89
Número: 10
Fecha de publicación: 2018
Idioma: English
DOI:

10.1063/1.5039342
Notas: ISI, SCOPUS